T005654 高空间分辨分析电子显微学

出处:按学科分类—综合性图书 湖北人民出版社《中国图书大辞典:1949-1992第15册工业技术(上)》第582页(263字)

朱静等编着。

科学出版社1987年8月版。29万字。主要介绍高空间分辨分析电子显微术的基本理论,包括一般透射和扫描透射成像技术,高分辨结构像及晶格像,电子能量损失谱及X射线能量谱,会聚束及μ衍射,表面电子显微术等。

在组成分析方面,X射线能谱空间分辨率已达几十埃。

在结构分析方面,书中全面论述会聚束电子衍射,介绍其在晶体结构方面的应用。此外,书中还介绍了表面电子显微术,其优点是可以直接观察表面的一维结构、原子级的台阶等,并能记录其动态变化过程。

收入“材料科学及测试技术丛书”。

分享到: