T005834 电力半导体器件中间测试技术

书籍:中国图书大辞典:1949-1992第15册工业技术(上) 更新时间:2018-11-09 19:30:20

出处:按学科分类—综合性图书 湖北人民出版社《中国图书大辞典:1949-1992第15册工业技术(上)》第601页(208字)

王益成等编着。

机械工业出版社1990年5月版。29.2万字。

系统介绍电力半导体器件中间测试的基本原理、测试方法及其对电力半导体器件特性的影响。包括半导体材料的检测,电力半导体器件电流放大系数的测量,电子寿命的测量,杂质浓度分布的测量,表面电场和空间电荷区的测量,晶闸管扩展速度的观测,热特性的测量,二次击穿的检测,伏安特性测试和显微技术及其在半导体技术中的应用等。

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