T005786　半导体测试技术

出处：按学科分类—综合性图书 湖北人民出版社《中国图书大辞典：1949-1992第15册工业技术(上)》第596页（242字）

孙以材编着。冶金工业出版社1984年10月版。76．1万字。共10章。内容包括半导体材料的导电型号、电阻率、少子寿命、晶体原生缺陷以及外延片等的常规测试技术；与霍尔效应、红外光吸收有关的测试方法和原理；X射线形貌和电子衍射、衍衬像理论和应用，近几年发展的C-V测试瞬态电容技术；半导体超纯领域中应用的几种重要痕量分析方法。书中涉及的测试项目和方法，大多是参照中国国家标准编写的，但也涉及美国材料试验协会(ASTM)标准。有3个附录。