T005834 电力半导体器件中间测试技术
书籍：中国图书大辞典：1949-1992第15册工业技术(上)
更新时间：2018-11-09 19:30:20
出处：按学科分类—综合性图书 湖北人民出版社《中国图书大辞典：1949-1992第15册工业技术(上)》第601页（208字）
王益成等编着。
机械工业出版社1990年5月版。29．2万字。
系统介绍电力半导体器件中间测试的基本原理、测试方法及其对电力半导体器件特性的影响。包括半导体材料的检测，电力半导体器件电流放大系数的测量，电子寿命的测量，杂质浓度分布的测量，表面电场和空间电荷区的测量，晶闸管扩展速度的观测，热特性的测量，二次击穿的检测，伏安特性测试和显微技术及其在半导体技术中的应用等。