高频阻抗计量概述

出处：按学科分类—工业技术 企业管理出版社《计量专业工程师手册》第393页（1100字）

高频阻抗计量是对30kHz至1000MHz频率范围内集总参数电路元件阻抗的计量。集总参数阻抗定义为电路或元件中电压与电流的复数比，单位为欧姆(Ω)，其倒数称为导纳，单位为西门子(S)。

高频阻抗测量按被测对象的连接方式分为二端测量和三端测量。二端测量是指电路或元件对地阻抗的测量，它包括周围其它导体的影响。三端测量的测量结果仅是两个导体之间的导纳，排除了邻近其它导体的影响。

【参考文献】：

［1］王立吉、金国钧编着，高频电压的计量测试，计量出版社，1986。

［2］李世雄、彭幼伯等编着，低频电压的计量测试，计量出版社，1988。

［3］冯新善、吴幼璋等编着，高频、微波功率的计量测试，计量出版社，1987。

［4］张关汉、李光仪等编着，高频集总参数阻抗的计量测试，计量出版社，1986。

［5］胡希平、李湘编着，微波阻抗与反射的计量测试，计量出版社，1988。

［6］蔡新泉、关志仁等编着，高频、微波噪声的计量测试，计量出版社，1988。

［7］郭允晟、苏秉炜等编着，脉冲参数与时域测量技术，计量出版社，1989。

［8］吴毅、都世民等编着，高频、微波场强和干扰的计量测试，计量出版社，1986。

［9］谢上次、徐燕清编着，高频、微波相移的计量测试，计量出版社，1992。

［10］艾明、吴达慎等编着，失真与调制参数的计量测试，计量出版社，1989。

［11］黄福芸等主编，计量知识手册，中国林业出版社，1986。

［12］陈国瑞、华荣喜等编，工程电磁场与电磁波，西北工业大学出版社，1990。

［13］Ghose，R．N．，Microwave Circuit Theory and Analysis，McGraw－Hill Book Company，Inc．，1963。