T005827 半导体器件及电路的可靠性与退化

书籍:中国图书大辞典:1949-1992第15册工业技术(上) 更新时间:2018-11-09 19:29:23

出处:按学科分类—综合性图书 湖北人民出版社《中国图书大辞典:1949-1992第15册工业技术(上)》第601页(224字)

[英]M.J.豪斯等主编。

李锦林等译。科学出版社1989年10月版。38.9万字。

阐述用硅、砷化镓及磷化铟等材料制作的双极型晶体管、场效应晶体管、发光二极管、半导体激光器,以及微波集成电路等各种半导体器件及电路的可靠性和退化问题,综述半导体材料和器件的失效机理(包括金属间的固态扩散、电迁徙理论、欧姆接触的失效机理以及Ⅲ-Ⅴ族器件所特有的失效机理)和分析手段,提出了改善可靠性和提高成品率的方法。

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