T005827　半导体器件及电路的可靠性与退化

出处：按学科分类—综合性图书 湖北人民出版社《中国图书大辞典：1949-1992第15册工业技术(上)》第601页（224字）

[英]M．J．豪斯等主编。

李锦林等译。科学出版社1989年10月版。38．9万字。阐述用硅、砷化镓及磷化铟等材料制作的双极型晶体管、场效应晶体管、发光二极管、半导体激光器，以及微波集成电路等各种半导体器件及电路的可靠性和退化问题，综述半导体材料和器件的失效机理(包括金属间的固态扩散、电迁徙理论、欧姆接触的失效机理以及Ⅲ-Ⅴ族器件所特有的失效机理)和分析手段，提出了改善可靠性和提高成品率的方法。