热电偶测温法及塞贝克效应

出处:按学科分类—工业技术 企业管理出版社《计量专业工程师手册》第175页(2357字)

通常用电子气理论来解释热电现象,但是电子气理论并不能获得实用定量公式,热电现象的实际应用归纳为塞贝克效应、珀尔贴效应和汤姆逊效应三种,其中尤以塞贝克效应作为热电测温的理论基础。由两种不同金属丝组织闭合回路,由于两接点处温度不同而产生电势差,这种现象称为塞贝克效应。热电偶就是基于这一效应研制而成的测温元件,它用电势差的大小来衡量温度的高低。

金属中含有大量不断快速运动的自由电子。自由电子欲从金属中挣脱出来必须克服金属本身的电场力。也就是说,电子的动能大于金属的逸出功时,电子才能挣脱出来形成电流。两根相连的不同金属其逸出功不同,自由电子的密度也不同。电子密度不同的导体相互接触时就会产生自由电子的扩散现象,自由电子从密度大的导体流向密度小的导体。假如导体A的电子密度比导体B的电子密度大,则有些电子从A跑到B中,如图4.4-1所示。上述两种原因使闭合两金属丝产生接触电势。如图4.4-2所示,

图4.4-1 接触电势原理

图4.4-2 两金属丝的闭合回路

设u′AB为逸出电位不同引起的接触电势,u″AB为电子密度不同引起的接触电势:

总的接触电势为

式中:k为玻耳兹曼常数,e为电子电荷,nA为金属A的电子密度,nB为金属B的电子密度,T为接点温度。当两金属为闭合回路时,产生的总电势应为:

由上式可得结论:

1.当材料一定时,热电势EAB是热接点温度T1及冷接点温度T2的函数。如固定T2,则热电势EAB是热接点温度T1的单值函数。

2.闭合回路接点温度相同(T1=T2)时,电势EAB=0。

3.闭合回路两金属丝相同材料(nA=nB),即使冷、热接点温度不同(T1≠T2),也不能产生热电势。

所以,闭合回路产生热电势的条件是两金属的电子密度不同,且两接点温度不相等。

热电势EAB随温度的变化率称为导体的热电势率S(T)。金属A、B的热电势率SAB可表示为:

SAB=dEAB/dT

SAB=SA-SB (4.4-5)

式中:为金属的塞贝克系数。表4.4-1为常用热电偶的塞贝克系数。

表4.4-1 各种热电偶的塞贝克系数(μV/℃)

【参考文献】:

[1]师克宽等,过程参数检测,中国计量出版社,1990。

[2]王江,现代计量测试技术,中国计量出版社,1990。

[3]鲁绍曾,现代计量学概论,中国计量出版社,1987。

[4]赵琪 原遵东等,用于ITS-90的直流光电温度比较仪,计量学报(1990),Vo1,11,No.4,P.241。

[5]H.Preston-Thomas,The International Temperature Scale of 1990,CCT BIPM,1990

[6]蒋思敬、姚土春编,压力研究。

[7]M·K,若霍夫斯基着,李燕、黄国政等译,压力和疏空计量技术。

[8]Supplementary Information for the International Temperature Scale of 1990,CCTBIPM,1990。

[9]Techniques for Approximating The International Temperature Scale of 1990,CCT BIPM,1990。

[10]王魁汉,温度测量技术,东北工学院出版社,1991。

[11]沈正宇、王凤诚,从计量保证方案(MAP)谈一等标准水银温度计的检定质量,第二届全国温度测量与控制学术会议论文集,P340-345,1990。

[12]压力计量名词术语及定义,JJG,1008-87。

[13]知久明、金田良作等合编,房景富、韩慧文、袁先富译,压力测试仪器的管理。

[14]许第昌编,压力计量测试。

[15]蔡武昌等编,流量测理方法和仪表选用指南。

[16]川田裕郎等编着,流量测量手册。

[17]苏彦勋、盛健、梁国伟编着,流量计量与测试。

分享到: