T005841　半导体器件失效分析

出处：按学科分类—综合性图书 湖北人民出版社《中国图书大辞典：1949-1992第15册工业技术(上)》第602页（131字）

邓永孝着。

宇航出版社1991年4月版。27．6万字。

从失效分析工作和可靠性工程的需要出发，系统地介绍半导体器件失效分析的内容，除重点介绍失效机理和失效分析方法外，增加了实用性较强的使用可靠性内容和失效分析实例。