T006205　数字电路故障与诊断

出处：按学科分类—综合性图书 湖北人民出版社《中国图书大辞典：1949-1992第15册工业技术(上)》第645页（508字）

沈嗣昌编。

东南大学出版社1991年5月版。23．7万字。

电子工业部七五规划统编教材，主要介绍数字电路逻辑测试及可测试设计基本理论和方法。

分为14个单元：第一单元介绍数字电路中的故障模型，讨论数字电路故障诊断中的许多基本概念。第二单元简要地介绍布尔差分法、通路敏化法和D-算法等3种基本的测试生成算法。第三单元讨论PODEM和FAN等比较实用的算法。

第四单元介绍故障模拟方法的基本原理。第五单元讨论伪穷举测试技术。

第六单元就同步时序电路的故障检测试验作了简单的介绍。第七单元介绍数据压缩技术，特别是特征分析法，把大量的反映电路故障信息的数据压缩成一个二元向量，从而简化了对测试结果的分析。第八单元讨论可测试性的基本概念，介绍一些提高电路的可测试性的实用方法。第九、十两个单元依次介绍组合电路和时序电路的可测试设计技术。

第十一单元讨论PLA这种在VLSI中常用的电路结构的测试生成和可测试设计。第十二单元介绍CMOS电路的测试和可测试设计。第十三单元对RAM的测试及可测试设计作了简要的讨论。第十四单元介绍有关的电路结构和设计方法。

各单元之后均附有适量的思考题和习题。